Con ambos productos:
- 1) Calibrado Spectrum con aluminio y cobre.
- 2) Calibrado spectrum de baja energía con carbón y aluminio.
- 3) Manganeso a todo lo ancho a medición de resolución a la mitad del máximo.
- 4) Prueba de sensibilidad de baja energía para el monitoreo de la contaminación en la ventana del detector.
- 5) Dos tamaños de rejilla de níquel (aumento alto y bajo) para verificar el software de procesamiento de imagen y calibrado de aumento.
- 6) Desempeño del detector electrónico de retrodispersión
Especificaciones para el tamaño del orificio de las rejillas:
40 µm x 40 µm (1,600 µm²) +/- 5%
18 µm x 18 µm ( 324 µm²) +/- 5%
Dado que el X-Checker viene en una montura de "tamaño metalográfico" estándar 1" (25.4 mm), encajará virtualmente en cualquier SEM manufacturado comercialmente, desde los muy antiguos hasta los muy nuevos. Para el operador de un sistema SEM/EDS muy ocupado; en un periodo de tiempo muy corto se puede confirmar la resolución del detector (ancho del pico a la mitad del máximo) y calibrado de energía ya sea en Mn o Ni y asegurarse que la ventana no está contaminada, verificar la sensibilidad baja de número atómico y el calibrado del software de análisis de imagen. Puesto que los productos X-Checker están hechos de una montura de aluminio SEM, hay aluminio "en todas partes", de manera que no hay una "muestra" especial en la montura de aluminio.
X-Checker Extra
- Este producto contiene todas las características anteriores además de las siguientes:
- 7) Nitruro de boro para verificar el extremo inferior de desempeño de la energía del espectro
- 8) Fuente de "flúor" (PTFE) para verificar el extremo de baja energía de la resolución del espectro.
- 9) Y una rejilla de berilio (Be) para verificar la sensibilidad del extremo inferior de los detectores de alto desempeño
X-Checker Extra Extra
- Este producto contiene todas las características anteriores además de las siguientes:
- 10) Copa de Faraday Interconstruida
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