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SPI Supplies brinda la más amplia variedad de monturas para SEM disponibles. Nuestra extensa línea incluye monturas de aluminio y carbón, diseñadas para acoplarse a las marcas más importantes de microscopios electrónicos de barrido. En algunos países, lo que se conoce como montura SEM también se conoce como "tachón".
Las muestras ya colocadas en las monturas SEM, pueden ser únicas y de gran valor. Asegúrese que se encuentran almacenadas correctamente empleando nuestros: Estuches de almacenamiento para muestras SEM De igual forma, asegúrese que sus muestras sean montadas utilizando Cintas, hojas y discos conductivos de doble cara adhesiva y para el "retoque" de sus muestras, utilice la pintura conductiva de plata y carbón. Si usted es usuario de un equipo FESEM y no se encuentra satisfecho con la corta vida de sus muestras recubiertas de cromo, o bien con el tamaño de grano que observa, le sugerimos que considere el Línea OPC de recubridores de Osmio ya que los recubrimientos de Osmio generan capas totalmente amorfas sin un tamaños de grano en particular, y ya que el Osmio es un metal precioso, es inerte como el oro y el platino. Quien haya experimentado la oxidación rápida de las muestras tratadas con Cromo, sin duda apreciará las ventajas del trabajo con Osmio.
Le recomendamos visite nuestra Tienda Outlet de Fábrica SPI y revise nuestra sección de monturas SEM descontinuadas. ¡Le garantizamos atractivos precios!
Adicionalmente a las monturas estándar de Aluminio y Carbón, tenemos una amplia variedad de monturas especializadas, tales como grafito pirolítico, SPI Ultra Smooth™ y nuestras Planchetas de Berilio. Un punto característico es el terminado de las superficies que se encuentran en las monturas SPI Lustre™ este es reconocido como un valor importante, es mucho más lisa que otros terminados de monturas y es prácticamente igual a una montura "pulida". Un tipo especial de nueva montura es la Plancheta de Diamante SPI, con su superficie facetada y extremadamente dura, permite al usuario "muestrear" la composición de una superficie mediante la remoción de una porción diminuta de la superficie a ser analizada sin realmente alterar la superficie misma.
Nuestras monturas estándar para SEM están fabricadas de una aleación de Aluminio que es especialmente seleccionado por su fácil maquinado, de tal forma que la superficie de la montura es muy lisa y lista para utilizarse.
Para usos forenses, así como para otras aplicaciones críticas, utilizamos una aleación que produce pocas interferencias analíticas. Cada lote es analizado para asegurar que el bismuto, antimonio y plomo, que son de particular interés para estudios de resíduos de bala, no sean detectados por EDS (estos elementos, si están presentes se encuentran en el límite inferior en ppm).
Todas nuestras monturas son de carbón espectroscópicamente puro; es purificado para reducir todas las impurezas a menos de 10 ppm y a un punto en el que ningún detector EDS disponible en la actualidad las detecte. Los únicos picos extraños obsrvados de estas muestras, son precisamente los provenientes del carbón, y un pico "aparente" de Si que es imperceptible a muchos usuarios. Pensamos que esto es debido a la curva de radiación de fondo de Bremsstrahlung.
| No se puede considerar totalmente como una "montura", la nueva Rejilla Localizadora SEMF1 SEM se emplea superponiéndola sobre una montura SEM. Recomendamos que para muestras secas, se utilice la nueva rejilla SEM en conjunción con los Discos conductivos de carbon de doble cara, de 10 mm. |
AMRAY®,
Hitachi®,
JEOL®,
LEO/LEICA/CAMBRIDGE/PHILIPS/RJLEE®,
TOPCON/ISI®,
ZEISS®,
"1" Metallographic Universal,
Coates & Welter.
Monturas regulares SEM por geometría / tamaño
Sujeciones para monturas SEM,
Sujeción de secado por congelación, Adaptador de monturas SEM para rejillas TEM,
Otros adaptadores para monturas,
Montura tipo pinza,
Montura Lumisphere,
Montura "Gripping Mount",
Sujeciones para muestras múltiples
, Artículos para el manejo de monturas,
Herramientas para manejar monturas tipo alfiler, y
Estaciones de trabajo,
Pinzas para montura, sujeciones
y sujeciones para muestras en sección cruzada.
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ofrecen servicios analíticos SEM , como Structure Probe, Inc.
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