SPI Supplies

Módulo de Mapeo EDS para el Sistema de Captura de Imágenes ORION™

Sobreponga mapas de puntos EDS sobre una imagen electrónica secundaria


Chino

Inglés





Para usuarios que tienen instalado un sistema EDS en su microscopio SEM, el Módulo para Mapeo EDS les permite obtener mapas de puntos EDS que pueden sobreponerse sobre una imágenes secundarias SE o BSE. El barrido para los mapas de puntos deben ser validados por los circuitos del SEM (no seindo activos desde un EDS).


El Módulo de Mapeo EDS incluye las siguientes herramientas:


SPI #Each
Módulo de Mapeo EDS09296-AB$  1155.00 Agregue al carrito



Ver carrito     Completar orden

Envíe sus preguntas y comentarios

Coloque una orden o solicite una cotización


Regresar a:
Saturday September 06, 2008
© Copyright 2004 - 2008. Structure Probe, Inc.
Contacto con SPI Supplies y Structure Probe, Inc.
Todos los derechos reservados.
Todas las marcas y los nombres comerciales son propiedad de sus respectivos titulares.
Política de Privacidad

Distribuidores, representantes y agentes en el mundo Logo banderas