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Rejillas TEM SPI Supplies® Brand

Cómo seleccionar las mejores rejillas para su aplicación particular.



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Introducción a las rejillas TEM ofrecidas por SPI Supplies:
Un usuario novel puede encontrar abrumadora la experiencia de elegir entre una gran variedad de rejillas. Pero si se tienen en mente los criterios que abajo plasmamos, puede encontrarse cierto "orden" dentro de la confusión: Peliculas de soporte TEM sin pandeo: Todas las películas de soporte de una forma u otra exhiben cierto "pandeo" mientras que se recorre una rejilla. Ya que la posición en el eje z es lo que determina la magnificación y debido a que la posición z es una variable desconocida, el uso de una rejilla convencional para hacer medidas de precisión no es el mejor enfoque experimental. Es entonces conveniente considerar las rejillas con ventana de membrana de nitruo de silicio SPI Supplies® o bien las rejillas con ventana perforada de membrana de nitruro de silicio.

Puede estar seguro de que el uso de estas nuevas rejillas le brindarán una experiencia de medición mejorada, debido a que comparadas con las películas de soporte convencionales, el pandeo de la rejilla es prácticamente cero..

Es posible que las observaciones anteriores no sea un listado exhaustivo de todos los puntos a considerar y de la totalidad de posibilidades existentes para la selección de rejillas, pero son un buen inicio para quienes comienzan a trabajar con rejills. SPI Supplies es parte de Structure Probe, Inc., una empresa independiente reconocida internacionalmente como laboratorio de prueba y analítico para realizar estudios en microscopía. Algunos de los colaboradores de Structure Probe Inc., iniciamos nuestro trabajo en microscopía electrónica en los años 60. Si tiene algún requerimiento particular que no se haya mencionado en las secciones anteriores, déjenos saber que tipos de muestras desea analizar y con gusto haremos nuestro mejor esfuerzo para brindarle una recomendación basada en nuestros años de experiencia en las áreas de ciencias de la vida y ciencia de materiales.



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Tuesday February 09, 2010
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